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What's new

2012/07/25:シーケンサ/PLCの修理解析 New!!
姉妹サイト:シーケンサ/PLCの修理解析をリンクしました!
2011/06/14:デジタル・マイクロ・スコープ New!!
姉妹サイト:デジタル・マイクロ・スコープをリンクしました!
2010/04/07:観測時の風景写真をアップしました!
産総研様の許可をいただき、観測風景の写真を撮らせていただきました。
2009/12/15:【MA01】パンフをアップしました!
AFMカンチレバー/試料・同時観測用スコープ【MA01】のご紹介パンフ(PDF版)をアップしました!(約360KByte)
2009/11/01:当サイト開設!
AFMカンチレバー/試料・同時観測用スコープ<型式:MA01>

AFMカンチレバー/試料・同時観測用スコープとは?

 ビーコ社(旧デジタルインスツルメンツ)製AFM(マルチモード)を利用する際、カンチレバーを所定の位置に位置決めする作業が発生します。
 一般のマイクロ・スコープを利用すると被写界深度が浅いためにカンチレバー先端部と試料を同時に観測することが困難です。
 また純正のアライメント・スコープは、追加設備として購入するには非常に高額なものが多いのが現状です。
 弊社では長年培ってきた光学技術をベースに高被写界深度・長WD・カメラ映像化を実現した光学システムを廉価で供給できる体制を作り上げました。
 左下の写真をご覧ください。カンチレバー部と試料を同時に観測できていることがお判りいただけると思います。
 これによって、カンチレバーの位置合わせが容易になり、計測中のカンチレバーの動作も観測することができます。



技術指導:
牛島 洋史 氏 (独立行政法人 産業技術総合研究所 光技術研究部門 バイオフォトニクスグループ グループ長)
石田 尚之 氏 (独立行政法人 産業技術総合研究所 光技術研究部門 バイオフォトニクスグループ 研究員)

 

 

AFMカンチレバー部の観測写真例 (クリックで写真拡大)
被写界深度約300um (カンチレバーと試料との距離)
サンプル
写真提供:産業技術総合研究所 光技術研究部門

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